产品情报

环境试验・委托试验

电容加速寿命试验系统 TLE

电容寿命试验系统 TLE 60

  • 每通道最大可加载1kV/20mA; 500V/20mA; 250V/50mA，
    自动进行长时间电容寿命评价试验。
  • 系统构成：最多装配20块板，每块板拥有10通道。
  • 因为，每通道的电流量，负载容量大。
    所以，1通道可连接20个〜50个电容，进行寿命测定和伯恩利试验。
  • 因为设定了限流电阻，所以不会损坏测试品。
TLE　规格
加载电压 1～250.00V 10～500.0V 10～1000.0V
测定电压 0～250.00V 0～500.00V 0～1000.0V
测定电流 0～50.000mA
0～5.0000mA
0～500.0 uA		 0～50.000mA
0～5.0000mA
0～500.00uA
0～50.000uA		 0～20.0000mA
0～2.00000mA
0～200.000uA
0～20.0000uA
泄漏电流 0.500～50.000mA 5.000～50.000mA 4.000～20.000mA
最大负载容量 1200uF/CH 1200uF/CH 1200uF/CH

以上产品请咨询 : ETAC事业部

请使用咨询格式