绝缘劣化・特性评价系统 SIR
绝缘劣化特性评价系统 SIR13 / SIR13 SLIM
- 一机三用：离子迁移和绝缘电阻测定及绝缘特性评价（3Way Use Type）
- 所有通道ch都配有微小电流计，以20ms的速度，连续测定绝缘电阻值和捕捉瞬间发生、瞬间结束的离子迁移现象
- 250V标准测试板构成：16ch，1ch/1电源和8ch/1电源。
500V及1000V测试板构成：8ch，1ch/1电源可根据需要选择不同的测试板。 - 可根据实际需要，自由选择各测试板，且可混杂使用。
- 可获取离子迁移现象发生时、发生前和发生后的数据。
- 使用高压单元，最大加载电压可达：10kV
- 可搭载脉冲测试板，加载重复的脉冲电压，
脉冲电压选择范围：在＋100V和-100V之间自由选定。 - ±脉冲加载波形可以20μs为单位，设定任意波形，即可作出各种脉冲波形。
还有贴挂在温湿度箱上，装配1枚SMU板的简易SIR13SLIM机型。
| 加载电压 | 100VPulse・250V・500V・1kV |
|---|---|
| 高电压单元 | 1.5kV・3kV・6kV・10kV |
| 测定板 | 最多8枚(16ch/板时，Max128ch) |
| 最大电流测定范围 测定量程 及 分辨率 |
1) 30mA(1μA 分辨率) |
